Optimization of line pattern transfer of integrated optical mach-zender interferometer for optical sensor

Conventional photolithography usually used in in-house fabrication process to transfer the design of line pattern. This research lays the foundation for the optimization of photo lithography process for line pattern transfer of complex optical circuitry. Integrated Optical Mach-Zehnder Interferomet...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق: أطروحة
اللغة:English
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://dspace.unimap.edu.my:80/xmlui/bitstream/123456789/78345/5/Page%201-24.pdf
http://dspace.unimap.edu.my:80/xmlui/bitstream/123456789/78345/2/Full%20text.pdf
http://dspace.unimap.edu.my:80/xmlui/bitstream/123456789/78345/3/Nurulbariah.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة