A Study On Process-Generated Crystal Defects And Corresponding Leakage Current Of P-N Junctions In Bipolar Transistors
An investigation into excess reverse leakage current of p-n junction process control structures in an industrial bipolar junction transistor technology is detailed in this work. Excess leakage is shown to be caused by rod-like crystal defects generated from a boron implantation process. The ro...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2010
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/42912/1/Cheah_Chun_Yee24.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|