Device simulation of the electrical characteristics in 14nm gaussian channel junctionless finfet
In conventional FinFET, it becomes difficult to define the doping concentration of material over a distance shorter than 10nm and produce high-quality junctions for sub 20nm regime which leads to short channel effects. Hence, Junctionless FinFET which offers architecture, free from any p-n junction...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ramakrishnan, Mathangi |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2022
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/102170/1/MathangiRamakrishnanMSKE2022.pdf.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Reliability analysis of junctionless fin field effect transistor (JL-FinFET)
بواسطة: Hamzah, Muhammad Naziiruddin
منشور في: (2022) -
Study of time-dependent dielectric breakdown (TDDB) in 15MM junctionless FinFET
بواسطة: Chng, Sze Lyn
منشور في: (2022) -
Performance analysis of 22NM FinFET-based 8T SRAM cell
بواسطة: Hasan Baseri, Nur Hasnifa
منشور في: (2018) -
Optimization of progress parameters for lower leakage current in 10 NM finfet using taguchi method
بواسطة: Loy, Ying Ting
منشور في: (2020) -
Parameter variations of 20NM GAAS junctionless-gate-all-around field-effect transistor with quantum mechanical effects
بواسطة: Mohamad Rasol, Muhammad Faidzal
منشور في: (2021)