Tight-binding molecular dynamics studies of clusters and defects in GaAs and AlAs /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Quek, Hoon Khim |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1998.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Copper-induced deep level defects in GaAs0.6P0.4 alloy semiconductor /
بواسطة: Hu, Peh Yin
منشور في: (1992) -
Pulse-duration dependent capacitance analysis and its application to copper in GaAs0.6P0.4 /
بواسطة: Han, Meng Kwong
منشور في: (1994) -
Defect studies of MBE grown AlGaAs/GaAs and InGaAs/GaAs materials /
بواسطة: Du, An Yan
منشور في: (1998) -
Theory of point defects in semiconductors /
بواسطة: Khoo, Guan Seng
منشور في: (1987) -
Defect studies in gallium arsenide phosphide and confirmation of negative-U property of sulphur related DX center /
بواسطة: Luo, Yingying
منشور في: (1994)