Stress-induced leakage current in thin oxides under high-field impulse stressing /

Saved in:
書目詳細資料
主要作者: Tan, Yan Ny
格式: Thesis 圖書
語言:English
出版: 2002.
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
實物特徵
實物描述:xviii, 148 leaves : ill. ; 30 cm.
參考書目:Bibliography: leaves 138-147.