Studies of cobalt silicides formation by interlayer mediated epitaxy using in-situ transmission electron microsccopy /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Chong, Khoon Khye |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2002.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
The effects of annealing on microstructural changes for aluminium nitride epitaxial grown on sapphire by transmission electron microscopy
بواسطة: Kaur, Jesbains
منشور في: (2017) -
Nickel silicide integration issues in SI deep sub-micron technologies /
بواسطة: Tan, Wee Leng
منشور في: (2001) -
Interlayer mixing in lithium nickel manganese cobalt oxide cathode materials for rechargeable lithium batteries
بواسطة: Tan, Tze Qing -
Growth and characterization of electron beam induced deposits from cobalt carbonyl /
بواسطة: Lau, Yi Ming
منشور في: (2000) -
Laser-induced formation of titanium silicides and its applications in deep sub-micron technology /
بواسطة: Chen, Shaoyin
منشور في: (2001)