الموضوعات المستخلصة من بحثك.
يعرض 1 - 15 نتائج من 15 نتيجة بحث عن '', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1
    Modelling and simulation of hot-carrier degradation in submicrometre MOS transistors /
    بواسطة Seah, Boon Pian
    منشور في 1995
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  2. 2
    Characterization of hot-carrier degradation in submicrometer MOS transistors /
    بواسطة Ang, Diing Shenp
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  3. 3
    A study of hot-carrier effects using photon emission spectroscopy /
    بواسطة Tao, Jing Mei
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  4. 4
    Hot-carrier characterization of tungsten polycide gate and graded-junction MOS transistors /
    بواسطة Lou, Choon Leong
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  5. 5
    Evaluation of hot-carrier degradation in submicrometre MOSFETs by gate capacitance and charge pumping current measurements /
    بواسطة Tan, Suat Eng
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  6. 6
    Hot-carrier degradation study in MOSFET's by charge pumping, gated-diode and floating gate techniques /
    بواسطة Goh, Yong Han
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  7. 7
    Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor (LDMOS) transistor Safe Operating Area (HCI-SOA) characterization under hot carrier injection /
    بواسطة Sharifah Shafini Syed Shahabuddin
    منشور في 2013
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  8. 8
    The lateral profiling of interface state and oxide charge densities in electrically stressed MOSFET's /
    بواسطة Hoon, Siew Kuok
    منشور في 1998
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  9. 9
    A study of hot-carrier degradation in nitrided and conventional oxides /
    بواسطة Goo, Kah Heong
    منشور في 1998
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  10. 10
    Hot-carrier effects in thin gate oxide MOSFET's /
    بواسطة See, Leng Kian
    منشور في 1998
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  11. 11
    Hot-carrier characterization of submicrometer MOS transistors : subthreshold degradation and channel-width effect /
    بواسطة Qin, Wei Han
    منشور في 1998
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  12. 12
    Hot-carrier studies in submicrometer SOI and conventional MOSFETs /
    بواسطة Yip, Anselm
    منشور في 1998
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  13. 13
    A study of hot carrier degradation in LDMOS transistor /
    بواسطة Atikah Razi
    منشور في 2013
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  14. 14
    Impact of fabrication process on hot carrier injection in VDMOS transistor /
    بواسطة Murti, Wijaya Bayu
    منشور في 2013
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  15. 15
    A study on hot carrier effect (HCE) on LDD n-MOSFET /
    بواسطة Haziezol Helmi Mohd Yusof
    منشور في 2013
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث