يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Goh, Yong Han', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1
    Hot-carrier degradation study in MOSFET's by charge pumping, gated-diode and floating gate techniques /
    بواسطة Goh, Yong Han
    منشور في 1997
    أطروحة كتاب
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني